此次亞洲首秀的全新工業(yè)CT無損測(cè)量技術(shù)METROTOM，實(shí)現(xiàn)了錐束X射線斷層掃描與坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)出色的融合，其兼具高精度與多功能的特點(diǎn)，有效取代傳統(tǒng)復(fù)雜耗時(shí)的檢測(cè)方式，解決產(chǎn)品難以觸及與隱藏部位的尺寸及形位公差測(cè)量、孔隙率分析、裝配檢驗(yàn)、模具修改、逆向工程等業(yè)界應(yīng)用難題。能夠無縫對(duì)接塑料工程、鋁壓鑄、汽車、電子、精密機(jī)械及科研檢測(cè)等行業(yè)需求。
同時(shí)，值得關(guān)注的是，傳感器和測(cè)頭正為測(cè)量帶來前所未來的“高科技”體驗(yàn)，這在蔡司的CIMT展位上隨處可見。此次展示的新型測(cè)頭ZEISS DotScan 白光測(cè)頭已經(jīng)整合到了整個(gè)蔡司測(cè)量系統(tǒng)。配備DotScan 共聚焦白光測(cè)頭的ZEISS ACCURA 多測(cè)頭平臺(tái)，也是市場(chǎng)上首次推出的裝于萬向旋轉(zhuǎn)測(cè)座上的白光測(cè)頭。
而新型光學(xué)傳感器LineScan：可在ZEISS CONTURA RDS 機(jī)型上應(yīng)用自如，能并帶來更精密、更可視化的測(cè)量。采用LineScan 可以擴(kuò)展ZEISS CONTURA 的功能，它具有進(jìn)行快速光學(xué)測(cè)量的特點(diǎn)。可實(shí)現(xiàn)對(duì)汽車零部件、模具及產(chǎn)品、以及需要對(duì)接觸敏感或結(jié)構(gòu)精細(xì)的表面進(jìn)行測(cè)量。
作為新型粗糙度傳感器實(shí)現(xiàn)在蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（CMM）完成按標(biāo)準(zhǔn)對(duì)粗糙度和波紋度的檢測(cè)，新型ZEISS ROTOS 粗糙度傳感器在質(zhì)量保障檢測(cè)中，執(zhí)行一種新的、更加簡(jiǎn)單的工作過程。其目的是在一臺(tái)測(cè)量機(jī)上進(jìn)行尺寸、位置或外形檢測(cè)并可以對(duì)相同的工件進(jìn)行粗糙度和波紋度測(cè)量。