蔡司X射線顯微鏡Xradia 810 Ultra超快亞微米級(jí)X射線無損檢測(cè)優(yōu)勢(shì)
將納米級(jí)力學(xué)性能原位測(cè)試功能添加至您的Xradia Ultra?納米級(jí)的3D X射線顯微鏡。
能夠獲取樣品在負(fù)載情況下50納米空間分辨率的3D圖像
能夠?qū)崿F(xiàn)多種納米級(jí)力學(xué)性能測(cè)試模式,包括壓縮,拉伸以及壓痕測(cè)試
能夠?qū)Πń饘?,陶瓷,?fù)合材料,高分子材料以及生物材料在內(nèi)的多種材料進(jìn)行分析研究
能夠補(bǔ)充電鏡,微米CT以及一些獨(dú)立的檢測(cè)設(shè)備等力學(xué)測(cè)試手段,實(shí)現(xiàn)多尺度下理解材料的性能變化---從原子級(jí)和納米級(jí)到微米和宏觀尺度。
提供兩種模式,包括了不同大小的力值測(cè)量范圍
????????LS108:?最大力值0.8 N
????????LS190:?最大力值9 N?
可與以下型號(hào)顯微鏡兼容:
ZEISS Xradia 800 Ultra
ZEISS Xradia 810 Ultra
Xradia UltraXRM-L200
Xradia nanoXCT-200?
